測量精度
2.5+L/200重復精度
2.5um總放大倍率
18~195X物方視場
8.1~1.3mm工作距離
82mm光柵尺解析度
0.1um
測量精度
2.5+L/200重復精度
2.5um總放大倍率
18~195X物方視場
8.1~1.3mm工作距離
82mm光柵尺解析度
0.1um
測量精度
2.5+L/200重復精度
2.5um總放大倍率
18~195X物方視場
8.1~1.3mm工作距離
82mm光柵尺解析度
0.1um
測量精度
2.5+L/200重復精度
2.5um總放大倍率
18~195X物方視場
8.1~1.3mm工作距離
82mm光柵尺解析度
0.1um
測量精度
2.5+L/200重復精度
2.5um總放大倍率
18~195X物方視場
8.1~1.3mm工作距離
90mm光柵尺解析度
0.5um
測量精度
2.5+L/200重復精度
2.5um總放大倍率
18~195X物方視場
8.1~1.3mm工作距離
90mm光柵尺解析度
0.5um
測量精度
2.5+L/200重復精度
2.5um總放大倍率
18~195X物方視場
8.1~1.3mm工作距離
90mm光柵尺解析度
0.5um
測量精度
2.5+L/200重復精度
2.5um總放大倍率
18~195X物方視場
8.1~1.3mm工作距離
90mm光柵尺解析度
0.5um
測量精度
2.5+L/100重復精度
2.5um總放大倍率
18~195X物方視場
8.1~1.3mm工作距離
90mm光柵尺解析度
0.5um
測量精度
2.5+L/100重復精度
2.5um總放大倍率
18~195X物方視場
8.1~1.3mm工作距離
90mm光柵尺解析度
0.5um
測量精度
2.5+L/100重復精度
2.5um總放大倍率
18~195X物方視場
8.1~1.3mm工作距離
90mm光柵尺解析度
0.5um
測量精度
2.5+L/100重復精度
2.5um總放大倍率
18~195X物方視場
8.1~1.3mm工作距離
90mm光柵尺解析度
0.5um
測量精度
2.5+L/200重復精度
2.5um總放大倍率
25.2~158.4X物方視場
8.1~1.3mm工作距離
90mm光柵尺解析度
0.1um
測量精度
重復精度
總放大倍率
物方視場
工作距離
光柵尺解析度
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新聞資訊
News時間：11-08 2023 來自：祥宇精密
三坐標測量機的英文名稱是Coordinate Measuring Machine（CMM）。CMM是一種高精度的測量設備，它可以在三個軸向上進行測量，以確定物體的位置和形狀。它是一種重要的測量設備，廣泛應用于機械制造、汽車制造、航空制造等領域。
CMM的測量原理是基于坐標系的原理，通過測量物體在不同坐標系下的位置和形狀來確定物體的真實尺寸和形狀。CMM通常由計算機控制系統、測量頭、工作臺、傳動系統等組成。計算機控制系統負責控制整個測量過程，測量頭用于接觸物體并測量其位置和形狀，工作臺用于放置被測物體，傳動系統則用于移動工作臺和測量頭。
CMM的優點在于其高精度、非接觸式測量和自動化程度高等。由于其高精度，CMM可以測量小的細節和特征，如微小的尺寸和角度。由于其非接觸式測量，CMM不會對被測物體造成損傷，并且可以測量柔軟的物體。由于其自動化程度高，CMM可以快速地測量多個物體，并且可以減少人為誤差。
CMM的應用廣泛，包括機械制造、汽車制造、航空制造、電子制造等領域。在機械制造中，CMM可以用于測量零件的尺寸和形狀，以確保其符合設計要求。在汽車制造中，CMM可以用于測量車身和零部件的尺寸和形狀，以確保其符合設計要求。在航空制造中，CMM可以用于測量飛機零部件的尺寸和形狀，以確保其符合設計要求。在電子制造中，CMM可以用于測量電路板、芯片等部件的尺寸和形狀，以確保其符合設計要求。
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聯系人：張小姐
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